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	泰克示波器探头泰克示波器探头	泰克示波器探头广州市伊测电子仪器有限公司欢迎您的来电咨询！020-81064377 13434226315 王伟
	P7313SMA、P7380SMA差分探头 P7313SMA、P7380SMA	P7313SMA、P7380SMA差分探头13.0 GHz Bandwidth (P7313SMA only, typical) 8.0 GHz Bandwidth (P7380SMA only, typical) 50 Ω Termination Network, Differential SMA Inputs Industry-leadin
	TCP0030电流探头 TCP0030	TCP0030电流探头TCP0030 is a high-performance, easy-to-use AC/DC current probe designed for use and direct connection (without the need of an additional power supply) to the TekVPI™ probe
	TCP0150电流探头 TCP0150电流探头	TCP0150电流探头Easy-to-Use and Accurate AC/DC Current Measurements Connects Directly to DPO4000, MSO4000, and DPO7000 Series Oscilloscopes Using the TekVPI Probe Interface DC to 20 MHz Bandwidth
	TDP1500、TDP3500泰克示波器探头 TDP1500、TDP3500	TDP1500、TDP3500泰克示波器探头Differential active probes provide truer signal reproduction and fidelity for high-frequency measurements. With ultra-low input capacitance and versatile device-under-test
	P7500系列差分探头 P7520、P7516、P7513A、P7508、P7506、P7504	P7500系列差分探头TriMode™ Probe – One Setup, Three Measurements Without Adjusting Probe Tip Connections Differential Single Ended Common Mode (Requires only One Probe vs. Conventional
	XJ27105型SOT-23封装器件测试装置 XJ27105型	XJ27105型SOT-23封装器件测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A/XJ4832/XJ4830/XJ4822/XJ4822B/XJ4828/XJ4829主机配合使用，能对国内、外不同类型SOT-23封装的贴片半导体器件的静态参数进行测试，显示其特性曲线。
	XJ27104型VMOS管特性测试装置 XJ27104型	XJ27104型VMOS管特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型VMOS管的静态参数进行测试，显示其特性曲线，并可测出其阈门电压。
	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置 XJ27103型	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试“78、79系列”三端集成稳压的静态输入特性曲线及负载特性曲线。
	XJ27102/XJ27102A型高压测试装置 XJ27102/XJ27102A型	XJ27102/XJ27102A型高压测试装置XJ27102型3KV/XJ27102A型5KV测试装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试3KV或5KV以内的半导体器件的反向电压。
	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置 XJ27101型	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试CMOS、TTL数字集成电路电压传输特性，不仅可判别被测器件功能是否正常，还可测出其开门电压、关门电压的重要参数
	XJ27100型场效应管配对测试装置 XJ27100型	XJ27100型场效应管配对测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用,能对国内、外不同类型的场效应管进行单管或对管测试。

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